Повідомлення про помилку

Deprecated function: The each() function is deprecated. This message will be suppressed on further calls in _menu_load_objects() (line 579 of /home/akademperiodykao/public_html/includes/menu.inc).

Фізико-технологічні аспекти деградації мікрохвильових діодів

Редактори: 
О.Є. Бєляєв, М.С. Болтовець, Є.Ф. Венгер, Р.В. Конакова, Я.Я. Кудрик, В.В. Мілєнін, Г.В. Мілєнін
Рік видання: 
2011
Сторінки: 
182
ISBN: 
978-966-360-176-2
Мова: 
Англійська
Видавець: 
ВД "Академперіодика"
Місце: 
Київ
В монографії розглянуті фізичні явища, які відбуваються в перехідному шарі метал—на­півпровідник і при пробитті кремнієвих НВЧ діодів, а також методологія теорії катастроф при прогнозуванні відмов кремнієвих діодів і транзисторів. Викладені методи вимірю­вання параметрів омічних і бар’єрних контактів та механізми деградації кремнієвих НВЧ діодів, пов’язані з фізико-хімічними і структурними властивостями межі поділу метал—напівпровідник, якістю вихідного напівпровідникового матеріалу та досконалістю р-n пе­реходу. Наведені експериментальні дані про методи гетерування дефектів у НВЧ діодних структурах, зокрема про низькотемпературні та ненагрівні процеси гетерування, що по­ліпшують параметри напівпровідникових приладів.
Монографія призначена для наукових працівників і розробників твердотільних НВЧ приладів. Вона може бути корисною також аспірантам і студентам, які навчаються за відповідним фахом.
スーパーコピー ブランドコピー コピーブランド ロレックス スーパーコピー ロレックス コピー モンクレール スーパーコピー モンクレール コピー モンクレール ダウン コピー シュプリーム スーパーコピー シュプリーム コピー ウブロ スーパーコピー ウブロ コピー ルイヴィトン スーパーコピー ルイヴィトン コピー ブランドiphoneケースコピー